Modeling of quasi-optical systems dedicated to material characterization and imaging in the J band (220-330 GHz)
Modélisation de systèmes quasi-optiques dédiés à la caractérisation de matériaux et à l'imagerie en bande J (220-330 GHz)
Résumé
Sub-millimetre waves combine the advantages of both microwaves and infrared waves, opening up new possibilities in the analysis of structures and material characterisation. To optimise a free-space characterisation bench in the J band (220-330 GHz), we propose a simulation tool based on a Gaussian beam formalism, allowing for the modelling and design of large quasi-optical components. Comparisons with measurements performed with a robotic bench are presented, and the tool is applied to model a focusing horn in the J band.
Les ondes sub-millimétriques rassemblent à la fois les atouts des micro-ondes et des infrarouges et ouvrent de nouvelles possibilités dans l'analyse de structures et la caractérisation des matériaux. Afin d'optimiser un banc de caractérisation de matériaux en bande J (220-330 GHz), nous proposons un nouvel outil de simulation basé sur un formalisme de faisceaux gaussiens permettant la modélisation et la conception de composants quasi-optiques de grandes tailles. Des résultats montrant l'application de cet outil pour la modélisation d'un cornet focalisant en bande J sont présentés et validés par des mesures réalisées avec un banc robotisé.
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
|---|