Advanced EELS spectroscopy characterization of AlGaN/GaN materials - Interférometrie In-situ, Instrumentation pour la Microscopie Electronique
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

Advanced EELS spectroscopy characterization of AlGaN/GaN materials

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Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
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https://hal.science/hal-04750424

Soumis le : mercredi 23 octobre 2024-16:12:29

Dernière modification le : lundi 28 octobre 2024-14:19:30

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hal-04750424 , version 1 (23-10-2024)

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Citer

Esteve Drouillas, Bénédicte Warot-Fonrose, Jean-Gabriel Mattei. Advanced EELS spectroscopy characterization of AlGaN/GaN materials. The 17th European Microscopy Congress (EMC 2024), Aug 2024, Copenhagen -, France. pp.24002, ⟨10.1051/bioconf/202412924002⟩. ⟨hal-04750424⟩

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